Radioelektronikos terminų žodynas. – Vilnius : BĮ UAB „Litimo“. Kazimieras Gaivenis, Gytis Juška, Vidas Kalesinskas. 2000.
puce de test pour conception du processus — technologijos tikrinimo lustas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. process development chip vok. Testchip zur Durchführung der Prozeßkontrolle, n rus. тестовый кристалл ИС для разработки технологии, m pranc. puce de test pour… … Radioelektronikos terminų žodynas
test chip — bandomasis lustas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. test chip vok. Testchip, n rus. тестовый кристалл ИС, m pranc. puce de test, f … Radioelektronikos terminų žodynas
Test microelectronique — Test microélectronique Cet article concerne le test de composants microélectroniques. Plusieurs points seront developpés: Pourquoi tester les composants Lien entre le design et le test Différents test appliqués aux composants Sommaire 1 Raison du … Wikipédia en Français
Test microélectronique — Cet article concerne le test de composants microélectroniques. Plusieurs points seront developpés: Pourquoi tester les composants Lien entre le design et le test Différents test appliqués aux composants Sommaire 1 Raison du test de composants 1.1 … Wikipédia en Français
Sécurité matérielle des cartes à puce — La sécurité matérielle des cartes à puce et des autres microcontrôleurs est l un des éléments clefs de la sécurité des informations sensibles qu ils manipulent. La littérature scientifique a produit un grand nombre de publications visant à… … Wikipédia en Français
Joint Test Action Group — Le JTAG pour Joint Test Action Group est le nom de la norme IEEE 1149.1 intitulé « Standard Test Access Port and Boundary Scan Architecture ». Le JTAG a été normalisé en 1990. Le terme JTAG, désignant le groupe de travail qui a conçu la … Wikipédia en Français
Operation Flintlock (nuclear test) — Operation Flintlock Flintlock Long Shot Information Country United States … Wikipedia
essai de détachement de la puce — lusto atplėšimo bandymas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. die push test vok. Zugtest für Chips, m rus. испытание кристалла ИС на отрыв, n pranc. essai de détachement de la puce, m … Radioelektronikos terminų žodynas
die push test — lusto atplėšimo bandymas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. die push test vok. Zugtest für Chips, m rus. испытание кристалла ИС на отрыв, n pranc. essai de détachement de la puce, m … Radioelektronikos terminų žodynas
Testchip — bandomasis lustas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. test chip vok. Testchip, n rus. тестовый кристалл ИС, m pranc. puce de test, f … Radioelektronikos terminų žodynas
